报告主题：用于辐射成像的专用集成芯片研究进展

报 告 人：邓智，清华大学工程物理系，长聘副教授

报告时间: 2021年7月7号 下午3：30-4：30

报告地点：401栋二楼1205-1会议室

      欢迎广大师生踊跃参加！

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摘要：

辐射成像在医疗、安检以及国土安全等领域中有着广泛的应用前景。随着辐射成像技术的发展，辐射探测器单元尺寸越来越小，对读出电子学的密度和集成度提出了极高的要求。本报告主要介绍近年来报告人课题组研制的用于PET和能谱CT的专用集成芯片（ASIC）进展情况，包括用于SiPM探测器读出的时间和能量数字化芯片和高密度光子计数型像素读出芯片等。

 

报告人简介：

    邓智，清华大学工程物理系，长聘副教授，IEEE高级会员，核电子学与核探测技术分会辐射探测微电子学专委会副主任委员，分别于1999年、2002年和2005年获得清华大学学士、日本东京大学硕士和清华大学博士学位。主要从事X射线探测与成像技术研究，先后承担“新型密集阵列探测器读出ASIC的研制”、“新型CZT半导体X射线和γ射线探测器研制”、“高密度光子计数型ASIC芯片的研制”等多项国家自然科学基金项目和科技部仪器设备开发专项的研究以及“动物PET/SPECT/CT一体化装置原理样机开发”等横向课题，共发表国际和国内期刊和会议论文50余篇。